淺述干法激光粒度分析儀的測(cè)量過(guò)程
點(diǎn)擊次數(shù):1990次 發(fā)布時(shí)間:2020-09-15
干法激光粒度分析儀是近二十幾年來(lái)快速發(fā)展起來(lái)的一種新型粒度分析儀,由于該儀器采用先進(jìn)的計(jì)算機(jī)技術(shù)與激光原理相結(jié)合,充分發(fā)揮了各自的優(yōu)勢(shì),使粉體的粒度分析變得快速方便,滿足了粉體行業(yè)粒度分析的基本需要。再加上儀器生產(chǎn)廠家廣泛的宣傳(儀器分析快速、準(zhǔn)確,精度高,分析精度0.001μm),因此該儀器得到快速發(fā)展和應(yīng)用。
激光散射測(cè)量是一種高分辨的光學(xué)檢測(cè)手段,樣品池檢測(cè)窗是測(cè)量區(qū)域的主要組成部件,窗口的灰塵和污染物質(zhì)會(huì)散射激光,雜質(zhì)散射光會(huì)隨分散樣品的散射光一起被測(cè)量,從而影響測(cè)量的精度。通過(guò)觀測(cè)測(cè)量背景就能判斷系統(tǒng)的光學(xué)潔凈程度是否達(dá)標(biāo)。

一個(gè)完整測(cè)量過(guò)程包括電子背景測(cè)量,光學(xué)背景測(cè)量和對(duì)光,加入樣品,開(kāi)始粒徑測(cè)量,完成測(cè)量。進(jìn)入測(cè)量過(guò)程后,軟件界面的左下方會(huì)有對(duì)話框指示測(cè)量的進(jìn)程。
1、測(cè)量背景:顆粒區(qū)的測(cè)量數(shù)據(jù),由于受到設(shè)備電子背景噪音,測(cè)試光路中鏡面灰塵,以及分散介質(zhì)中的雜質(zhì)顆粒影響會(huì)有一定的偏差。通過(guò)“測(cè)量背景”能純化粒徑測(cè)量,上述的背景信息和數(shù)據(jù)會(huì)從樣品測(cè)量數(shù)據(jù)中減去以得到的數(shù)據(jù)。
2、加入樣品:在背景測(cè)量結(jié)束后,出現(xiàn)加入樣品提示。左方遮光度指示欄直觀地表示測(cè)量樣品的數(shù)量,遮光度會(huì)隨著樣品數(shù)量的增加而逐漸增高。在未加入樣品前,右方的測(cè)量數(shù)據(jù)柱狀圖應(yīng)該是隨機(jī)變化,而且柱狀數(shù)據(jù)條的高度一般不超過(guò)5。
3、開(kāi)始測(cè)量:當(dāng)遮光度達(dá)到測(cè)量要求,停止添加樣品后保持穩(wěn)定(一般意味著樣品顆粒沒(méi)有發(fā)生溶解或凝聚,樣品顆粒正常穩(wěn)定分散),同時(shí)測(cè)量數(shù)據(jù)窗口顯示穩(wěn)定的,足夠強(qiáng)度的柱狀數(shù)據(jù)分布,可以按下“Start”鍵開(kāi)始測(cè)量。
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